熒光材料的發(fā)光機(jī)理

在高能射線的照射下，處于基態(tài)的熒光物質(zhì)分子通過(guò)吸收光線，躍遷到第一電子激發(fā)態(tài)；由于激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的，所以熒光物質(zhì)分子最終降回到基態(tài)，在降落過(guò)程中會(huì)發(fā)出一種可見(jiàn)光，通常把這種光稱(chēng)之為熒光。當(dāng)高能射線的激勵(lì)光撤去后，熒光物質(zhì)還會(huì)持續(xù)發(fā)光一段時(shí)間，這時(shí)的熒光即稱(chēng)為余輝。

熒光壽命測(cè)溫原理

熒光物質(zhì)從激發(fā)態(tài)返回到基態(tài)時(shí)，放出輻射發(fā)出熒光，激勵(lì)光撤去后，熒光材料持續(xù)發(fā)光的時(shí)間，被稱(chēng)為熒光衰落時(shí)間或熒光壽命，通常記作 τ。
熒光余輝的衰落直至消失是光的淬滅過(guò)程，溫度的升高使參與吸收光能的電子數(shù)增多，熒光的淬滅過(guò)程時(shí)間縮短，所以熒光物質(zhì)所處的溫度高低決定了光的淬滅過(guò)程的長(zhǎng)短，也就是熒光壽命的長(zhǎng)短，熒光壽命的測(cè)溫原理正是基于這種溫度相關(guān)性。

開(kāi)關(guān)柜光纖測(cè)溫儀的優(yōu)點(diǎn)

為有效避免電力事故的發(fā)生，達(dá)到安全生產(chǎn)的工業(yè)要求，開(kāi)關(guān)柜運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要完全符合相關(guān)安全規(guī)章制度的要求，這就導(dǎo)致了對(duì)開(kāi)關(guān)柜的研究受以下開(kāi)關(guān)柜特殊性的限制：
首先，是開(kāi)關(guān)柜的封閉性。開(kāi)關(guān)柜空間密閉且各個(gè)隔室呈封閉狀態(tài)，一般的測(cè)量?jī)x器很難放入其中，即使能放進(jìn)去，也需要測(cè)量?jī)x器的探頭尺寸特別小巧。 其次，是開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部強(qiáng)烈的電磁干擾以及惡劣的運(yùn)行環(huán)境。柜內(nèi)設(shè)備長(zhǎng)期處于高電壓大電流的運(yùn)行狀態(tài)，這會(huì)導(dǎo)致其內(nèi)部具有強(qiáng)烈的電磁干擾，使得測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，從而影響測(cè)溫裝置的可靠性。 考慮到開(kāi)關(guān)柜研究的這些特殊性，福州華光天銳利用熒光光纖測(cè)溫和數(shù)據(jù)無(wú)線通信相結(jié)合的方式實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)柜觸頭溫度的監(jiān)測(cè)。光纖傳輸?shù)氖枪庑盘?hào)，不受開(kāi)關(guān)柜內(nèi)電磁干擾的影響，將光纖探頭直接埋設(shè)在高壓開(kāi)關(guān)柜內(nèi)觸頭上，不僅避免了無(wú)線傳感器測(cè)溫供電不易的問(wèn)題，熒光測(cè)溫系統(tǒng)主機(jī)儀還具有抗電磁干擾、探頭尺寸小、可以伸到狹小空間、易于安裝、電絕緣等優(yōu)點(diǎn)，另外還兼具無(wú)線傳輸數(shù)據(jù)，無(wú)需人工巡檢的功能，滿足了開(kāi)關(guān)柜測(cè)溫環(huán)境特殊性的要求。